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分类：公司新闻 发布时间：2020-12-12 35725次浏览
Xradia 610 Versa以无损的方式观察那些用2D表面成像技术无法探...
Xradia 610 Versa以无损的方式观察那些用2D表面成像技术无法探测到的深层显微结构;利用成分衬度研究低原子序数或“近原子序数”元素及其它难于辨识的材料;能够在大工作距离下保持高分辨率，以完成无损原位成像实验研究。
⚫ 材料的三维结构表征分析;
⚫ 在多尺度下研究材料的内部特性;
⚫ 观察失效机理、降解现象和内部缺陷;
⚫ 对微观结构演变过程进行量化分析与表征;
⚫ 进行3D原位和4D(随时间推移的研究)成像，用以了解加热、冷却、干燥、加湿、拉伸、压缩、吸入、排出及其它模拟环境的影响。
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